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產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
詳細介紹
品牌 | 歐可儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,汽車,電氣 |
電路板高溫蒸煮儀
電路板高溫蒸煮儀規(guī)格:
內(nèi)部尺寸:Φ25×40
外部尺寸:W56×H100×D65
溫度範(fàn)圍:+100℃~+132℃
濕度範(fàn)圍:75-100%
溫度控制器:採用微電腦LED顯示薄膜按鍵型PID控溫儀表,溫度單點獨立控制,并附多組加熱系統(tǒng):不銹鋼鰭片式加熱器.
加濕系統(tǒng):電加熱表面蒸發(fā)方式,并附清洗用排水口.
內(nèi)箱材質(zhì):日本鏡面不銹鋼(SUS#304).
外箱材質(zhì):日本靜電噴涂技術(shù)處理(SUS#304).
安全保護裝置:無熔絲過負載保護器,壓縮機過流過載保護器,超溫斷電保護器,缺水保護,加熱加濕器干燒保護,加熱加濕器快速保險.
使用電壓:1Ф220V8A50HZ±10%
用水要求:RO逆滲透純水或蒸餾水.
試驗?zāi)康模?/span>
1、加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度、與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)、,加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
2、用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件,和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分佈函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的塬因所進行的試驗。
3、隨著半導(dǎo)體可靠性的提高,目前大多半導(dǎo)體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效,因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間,採用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型:即PCT和USPCT(HAST)現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(電工委員會)所標(biāo)準(zhǔn)化。注意事項:USPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應(yīng)力試驗)。
安全裝置:
1、鍋內(nèi)安全裝置:鍋門若未關(guān)緊則機器無法啟動。
2、安全閥:當(dāng)鍋內(nèi)壓力超過大工作值自動排氣泄壓。
3、雙重過熱保護裝置:當(dāng)鍋內(nèi)溫度過高時,機器嗚叫警
4、報并自動切斷加熱電源。
5、門蓋保護:ABS材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷。
鄭重承諾!:歐可儀器1年免費保修,免費送貨上門,免費安裝調(diào)試及操作技術(shù)培訓(xùn)?!犊砂纯蛻粢罅可碛喼啤?/span>
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